TIA3000测量系统是基于探测器的绝对标准，用于各种高精度测量。现成的配置包括热电冷却硅和砷化铟镓（InGaAs）探测器。
选项包括高精度光度校正滤光片（F1’～0.8%）、平坦响应滤波器、陷阱检测器和具有视场透镜的ANVIS兼容性滤光片，使得TIA3000成为任何光测量要求的标准。
标准校准，直接溯源到NIST，可用于任何配置的TIA3000从GAMMA的世界著名标准实验室。
TIA3000的核心是跨阻放大器。跨阻放大器的最新设计允许极低的暗电流水平（3毫微安培，3×10 - 15安培，在室温下用硅探测器）和优异的稳定性
这种稳定性和灵敏度比以往任何时候都要高10倍，使它成为任何标准实验室的终极工具。
温度稳定的硅和InGaAs探测器可覆盖200至1700纳米
温度稳定的硅和InGaAs探测器可用于覆盖200 - 1700 nm
温度稳定的校正过滤器可用
高精度视效函数校正f1'〜0.8％
ANVIS兼容性滤镜和镜头
高达10-15瓦或10-8勒克斯的高灵敏度
八个动态范围
每个0到10伏的输出
RS-232电脑控制
增益1010至104伏/安培
范围八个;自动或手动拨号控制
每个增益设置输出0至10 VDC
所有范围的线性<0.25％非线性
温度变化<5 ppm（百万分之一）每摄氏度
在1010范围内噪声<20微伏
频率滚降在1010范围内<10 Hz，输出> 1 V
长度（放大器）4.15英寸（10.5厘米）
直径（放大器）2.5英寸（6.4厘米）
长度（TE冷却器控制箱）12英寸（30.5厘米）
宽度（TE冷却器控制箱）11.3英寸 （28.7厘米）
高度（TE冷却器控制盒）4.5英寸（11.4厘米）
双极性输出电流+ 1.5安培最大
最大TEC输出功率12瓦
功率100-240 VAC，50-60 Hz
