薄膜数据分析软件

  • 产品型号:Film Wizard™
  • 制造原厂:Scientific Computing International

Film Wizard™Professional是迄今为止提供给薄膜工程师/科学家的功能最强大,功能最多,用户友好的软件包。它将优化和综合设计功能与强大的分析工具相结合,用于解释分光光度和椭偏数据,对薄膜层进行建模,并执行回归以确定沉积层的实际厚度和指数。特别是Film Wizard™:

  • 纳入五种新的光学薄膜合成方法,包括针状合成。
  • 提供七种优化算法,其中三种是全局优化算法。
  • 提供一个受约束的优化选项,用户可以为经过优化的任何变量输入最大和最小范围。
  • 计算并优化透射率,反射率,吸收率,透射相位,反射相位,椭偏参数(tan(Ψ),cos(Δ),Ψ,Δ),光密度,用户定义的目标(例如T s / R p - R s / T p),电场和颜色坐标目标。
  • 纳入了几种独特的材料/层模型(Rugate,EMA,Graded,用户定义索引和超级格),这使薄膜设计师能够更灵活地确定复杂设计和材料表征问题的解决方案。
  • 提供出色的2D,轮廓和3D图形。
  • 结合VB风格的宏语言。
  • 包括在线帮助。


Film Wizard™为用户提供了无与伦比的选择,最多可以定义14种不同的材料类型以用于设计。Film Wizard™包含一个大型的NK文件库,用于用户可以编辑和扩展的更广泛使用的材料。材料类型也可以由公式定义,可以是用户定义的,也可以是下列之一:

  • Sellmeier
  • Cauchy
  • Cauchy Exponential
  • Temperature Dependent Cauchy
  • Drude
  • Lorentz Oscillator
  • Drude+Lorentz Oscillator
  • EMA
  • Graded
  • Rugate
  • Super-Lattice
  • User Defined

用户只需指定适当的系数,程序就会计算出正确的指数。除上述材料类型外,Film WizardTM还提供了一种EMA材料模型,该模型被定义为多达5种不同材料的均匀混合物。EMA材料模型在建模合金,表面粗糙度,金属陶瓷和多晶硅等多晶材料时非常有用。分级材料(层)模型类似于EMA模型,因为它是两种材料的混合物; 然而,在分级材料中,混合比可以在层内的不同深度处指定。整个梯度层的混合比假设为用户指定“节点”处混合比的线性插值。最多允许100个节点。Rugate模型允许用户指定具有正弦折射率分布的图层。Film WizardTM还支持温度相关材料。可以指定折射率的温度依赖性和热膨胀。


分析

在程序的分析部分可以评估12个不同的性能参数,即:

  • 传输
  • 反射
  • Absorbtance
  • 传输阶段
  • 反映阶段
  • 椭圆参数Tan(Ψ),Cos(Δ)
  • 椭圆参数Ψ,Δ
  • 光密度
  • 电场
  • 用户定义的函数

S,P和Random Polarizations可以同时评估和显示。分析可以用一个或两个独立变量进行。独立变量包括:

  • 波长
  • 入射角
  • 任何层的厚度
  • 薄膜叠层的厚度
  • 任何材料的折射率(n或k)

优化/建模

Film Wizard™在指定目标时提供了很大的灵活性。无限数量的优化目标是可能的。目标可能包括以下任何单个或多个组合:

  • 传输
  • 反射
  • Absorbtance
  • 传输阶段
  • 反映阶段
  • 椭圆参数Tan(Ψ),Cos(Δ)
  • 椭圆参数Ψ,Δ
  • 光密度
  • 颜色坐标
  • 用户定义的函数

对于每个目标,用户可以指定偏振,入射角,重量和目标值。另外,用户可以使用上述参数作为术语(例如,T s / R p -R s / T p来指定多达三个用户定义的目标方程每个目标可以被指定为相等或不等(即,=,>或<)。目标可以从分光光度计和椭偏仪数据文件导入。如果需要,可以自动生成目标。颜色坐标目标也完全受支持。

Film Wizard™的另一个独特功能是可以选择七种不同的优化方法:

  • 改进的Levenberg-Marquardt(非线性梯度法)
  • Modified Simplex(非梯度方法)
  • 模式搜索(Hooke-Jeeves)
  • 黄金分割
  • 全球改良Levenberg-Marquardt
  • 全球单纯形
  • 统计蒙特卡洛

全局优化允许用户避免局部最小值并获得最佳设计(解决方案)。此外,还提供了受约束的优化选项,以便用户可以输入已优化的任何变量的最大和最小范围。因此,薄膜工程师/科学家可以限制优化以产生实用且合理的解决方案。耦合厚度(拾取)变量,有界指数,对称设计和最坏情况下的选择也是独一无二的。优化变量包括层厚度,指数,入射角,指数方程系数,Rugate参数,梯度层参数,EMA系数,用户定义系数和超格子厚度。优化变量可以全部同时变化。优化期间最多可显示四个图表,并且可以在后台执行优化时运行其他应用程序。该代码实现双精度计算,以提高精度并控制大型设计中的舍入误差。


合成

Film Wizard™包含五种光学薄膜合成方法:MultiBranch,随机,模式搜索,触发器和针合成。这些合成算法使光学涂层的设计自动化。不需要初始设计。除了所需的涂层光学性能指标之外,唯一需要的输入数据是基板和环境材料以及可用于设计的薄膜材料列表(最多26种不同材料)。Needles综合算法特别适用于寻找针对特殊和困难光学镀膜问题的设计解决方案。


针合成实例

这些设计是使用Film Wizard™针合成自动生成的,从单层开始。

  • 浸入式偏振分束器490-700nm
  • Boudot过滤器
  • 热镜
  • 双通道波分复用器

多分支合成示例

  • 4层广角抗反射涂层

结果

所有结果都可以以图形或表格形式显示。线,xy散射,面积轮廓,线轮廓,贴片和曲面图都可用。结果可能会打印或保存为文件。许多标签和编辑图形的用户选项都可用。一些选项包括覆盖图,线性/对数比例尺,从保存的图表中合并图表,以及附加标签和箭头。另外,在图例,图表标题和标签中可以使用下标和上标。图表数据可以轻松导入或导出到其他软件程序。另外,用户可以手动编辑图形数据或应用用户定义的方程。


宏语言

提供的宏语言允许用户通过提供VB风格的基本语言来扩展Film WizardTM的功能,其中a)为现代BASIC提供全面支持; b)支持使用标准Windows控件(如:按钮,复选框,组框,列表框,选项按钮和文本编辑控件)在代码中创建自定义对话框; c)支持OLE自动化,它允许宏语言以编程方式从其他应用程序访问软件组件; d)提供了从宏语言中声明和调用任何Windows API或外部DLL函数的能力。


系统要求

Microsoft Windows XP,Vista,Window 7,Window 8,Window 8.1,Window 10操作系统。