FilmTek™2000 SE台式测量系统为无图案薄至厚膜应用提供无与伦比的测量性能，多功能性和速度。它非常适合学术和研发环境。
| 技术规格 | |
|---|---|
| 薄膜厚度范围： | 0到150μm |
| 薄膜厚度准确度： | NIST可追踪标准氧化物100Å到1μm的±1.0Å |
| 光谱范围： | 240nm至1700nm（标准为240nm至1000nm） |
| 测量点大小： | 3毫米 |
| 样本量： | 2mm至300mm（150mm标准） |
| 光谱分辨率： | 0.3-2nm |
| 光源： | 受控氘卤素灯（寿命2,000小时） |
| 检测器类型： | 2048像素索尼线性CCD阵列/ 512像素冷却滨松InGaAs CCD阵列（NIR） |
| 自动对焦自动舞台 | 300mm（标准200mm） |
| 电脑： | 带有Windows™7操作系统的多核处理器 |
| 测量时间： | 〜2秒（例如氧化膜） |
