四点探针面电阻值测试系统由5601TSR面电阻测试仪、 QT-50手动测试控制台所组成。本系统利用四点探针原理测量出面电阻值/电阻系数;测量材质为晶圆或ITO膜等材料。
测量尺寸可为晶圆或方形尺寸;不用计算即可直接测量出面电阻值数值Ω/□。系统体积小,重量轻,容易操作,具防静电功能。可选配QT-60大尺寸手动测试控制台, QT-70自动探针测试台或ST-610A掌上型探头进行测量。
功能特性:
5601TSR面电阻测试仪
最大显示:150000(表面电阻Ω/□) /33000(一般电阻Ω)
采样率:4 samples/sec
显示:六位数, 7段LED(14.2mm)显示
过载指示:“00000” 闪烁
量程选择:自动和手动
过载保护:AC 330Vrms
工作电压:AC90V~264V, 50/60Hz<15VA
操作温度:0~50℃, RH≦80%
通讯接口:RS232, RS485
波特率:1200/2400/4800/9600/19200/38400/57600/115200
尺寸:208mm(长) x 91mm(高) x 280mm(宽)
QT-50手动测试控制台
手动机台压杆臂压下定位功能,助于检测
针头压力:外部加法码改变压力50g~500g
尺寸:300(长) x 250(宽) x 200(高)mm
量测尺寸:直径150mm,(6inch晶圆)
重量:7kg
应用:
太阳能光电材料
导电高分子材料
透明导电薄膜材料
ITO膜
奈米材料
小分子有机发光材料
高分子有机发光材料
生物芯片涂布材料
可提供各式探针台供选择:
QT-60 手动测试台
晶圆尺寸:8”~12” (300mm)
方形尺寸:300mm x 300mm
尺寸:250(长) x 320(宽) x 170(高)mm
ST-610A 掌上型探头
手持式,按下握把即可测量
针头高低间距,轻松测量
尺寸:107mm(高), 直径:52mm
重量:290g
QT-SW 标准电阻 Simulate wafer
范围:200m Ohm to 5K Ohm
可依客户需求订做任一阻值
精度:1%
标准片直径:76mm
可由校正单位出据校正报告供追溯