NC-80MAP是由日本Napson公司推出的半自动非接触式电阻率测量设备。它可以通过电脑进行控制，设定硅片尺寸和测试点数量，运用涡电流方法进行无接触测量，可以通过软件输出2D/3D Mapping图，更高效的完成测量任务。
特点
宽范围和高精度测试能力;
标配2inch到8inch的测试能力;
软件提供数据表功能,可以提供SPC统计,有最大,最小,平均值和标准方差值;
精密简约的设计
规格
标配电阻率测试范围: 0.01 ~ 3200 ohm/sq
可选高阻测试范围: 0.01 ~10k ohm/sq 或100k ohm/sq
探头直径:14mm
测试点数: 最高999点
