Toho Technology公司的HL9900是一款用于测量半导体材料的电阻率,载流子浓度和迁移率的半导体高性能霍尔系统。模块化设计理念,允许轻松升级,该系统适用于各种材料,包括硅和化合物半导体和金属氧化物膜等
该系统具有低电阻率和高电阻率测量功能,具有双重温度功能和一个可选的低温恒温器,可扩展该系统温度范围从90K到500K。计算机是基于Microsoft®Windows™的。
完整传承于nanometrics的HL5500PC霍尔效应测试系统
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