化合物半导体

衬底及外延片材料特性测试

霍尔效应测试仪

产品型号：HL9900
制造原厂：Toho Technology Inc.

Toho Technology公司的HL9900是一款用于测量半导体材料的电阻率，载流子浓度和迁移率的霍尔测试系统。采用模块化设计理念，方便增加测试功能，适用于各种半导体材料

具有低电阻率和高电阻率测量功能，具有双重温度功能和一个可选的变温测试平台，可扩展温度范围-190度到600都有。本系统传承自经典的nanometrics的HL5500霍尔效应测试系统

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