半导体耐高温可靠性测试探针卡

  • 产品型号:T40
  • 制造原厂:Celadon System, Inc.

AttoFast技术在1秒时测试的漏电流:

-漏电流<1fA/V 从-65℃ 至 125℃

-漏电流<2fA/V 从125℃ 至 200℃

-漏电流<4fA/V 从200℃ 至 300℃


10秒低漏电流:

-漏电流<5fA/V 从-65℃ 至 75℃

-漏电流<10fA/V 从75℃ 至 100℃

-漏电流<50fA/V 从100℃ 至 150℃

-漏电流<300fA/V 从150℃ 至 200℃


  • 40毫米直径陶瓷探针卡

  • 优化了对直流参数测试和单点WLR进行的测试

  • 与标准4.5”矩形探针卡夹具兼容

  • 温度兼容范围- 65°C到300°C

  • 延伸温度范围600°C

  • 可实现fA级漏电流测量

  • 可与快速断开的三轴电缆线束兼容

  • 可兼容Quasi-Kelvin连接

  • 可连接多个端口