半导体可靠性测试探针卡

  • 产品型号:VC20
  • 制造原厂:Celadon System, Inc.

在10秒时测试的低漏电流

-漏电流<5fA/V 从-65℃ 至 75℃

-漏电流<10fA/V 从75℃ 至 100℃

-漏电流<50fA/V 从100℃ 至 150℃

-漏电流<300fA/V 从150℃ 至 200℃


-45E接口可使VC探针卡与标准4.5"支架兼容

-408E接口可使VC20探针卡与Agilent 408x测试仪兼容

-每卡多达48个单层探针

-标准X-Y精度为电极尺寸的10%

-标准Z精度+/- 5微米


  • 最大的通道数:48

  • 测试平台:Keysight 4062,4072,4080,Keithley S600,S530 

  • 最小Pad尺寸:30umx30um(滑动距离可调)

  • 接触电阻:小于1欧姆

  • 温度范围:- 65℃至200℃

  • 漏电:每伏电压少于5fA

  • 可维修的

  • 使用寿命:生产型客户在铝和铜pad上有超过1千万次的点触。因磨损而需要换针的频率很低。