集成电路工艺

电阻率/PN性/少子寿命

非接触式硅锭/硅棒少子寿命测试仪

产品型号：HF-90R
制造原厂：Napson Corp.

HF-90R是由日本Napson公司推出的非接触式少子寿命量测设备。可以根据可以需求进行尺寸的定制。

可测量硅锭，棱柱状（JIS规定）及硅棒
运用非接光电导振动衰减法进行测量
通过数字示波器采样及电脑控制软件进行数据处理

测量范围：
100~5,000us (10~5,000Ω・cm电阻率范围）
样品尺寸：
可根据实际需求与我们详聊

NAP-HF-90R