非接触高精度超低阻测试仪

  • 产品型号:PVE-80
  • 制造原厂:Napson Corp.

PVE-80是由日本Napson公司推出的手动版励磁法非接触式量测设备。它可以通过手动移片的方式,针对超低阻材料进行无损非接触式的测量,且具备良好的测试精度及重复性。


  • 非接触脉冲电压激励法实现非破坏性测量

  • 超低阻方阻测量系统

  • 应用:Ag, Cu, Au, Al等金属材料,或其他超低阻样品。

  • 与千叶大学共同开发,获取专利【专利号:No.5386394】         

  • 测试范围:50u~1m ohm/sq

  • 测试精确度:≦3%

  • 测试再现性(CV):≦0.1% (σ的%)

                                        同一点上量测20次

  • 测试直径:14mm

  • 上下探头间距:2mm