集成电路工艺

电阻率/PN性/少子寿命

硅棒少子寿命测试仪

产品型号：HF-100DCA
制造原厂：Napson Corp.

HF-100DCA是由日本Napson公司推出的硅棒少子寿命测量设备。运用接触式的方式进行量测，可根据客户需求进行尺寸定制化设计。

行业标准的硅锭少子寿命测试系统
运用符合JIS规范的直接电流阳极氧化法进行测试
通过数字示波器采样及电脑控制软件进行数据处理

测量范围：
50us~20ms
样品尺寸：
可根据实际需求与我们详聊

NAP-HF-100DCA