集成电路工艺

电阻率/PN性/少子寿命

非接触式超高量程面电阻测量系统

产品型号：CRN-100
制造原厂：Napson Corp.

CRN-100是由日本Napson公司自行研制推出的非接触式超高量程面电阻量测设备，它主要运用了非接触式的电晕放电原理进行测量。

样品尺寸
大小 : 最大 300 x 400 mm (或更大)
厚度 : 最大 2 mm
可根据客户需求特殊设计
测量范围
10E+9 ~ 10E+15 ohm/sq

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