CRN-100是由日本Napson公司自行研制推出的非接触式超高量程面电阻量测设备，它主要运用了非接触式的电晕放电原理进行测量。
非接触式超高面电阻测量10E+9 ~ 10E+15 ohm/sq
拥有Mapping功能，可提供多点测试编程，显示2D/3D图
测量不受接触电阻影响
应用: 导电薄膜(a-Si, IGZO等), 镀膜材料, 半导体材料, 近似绝缘材料等
样品尺寸
大小 : 最大 300 x 400 mm (或更大)
厚度 : 最大 2 mm
可根据客户需求特殊设计
测量范围
10E+9 ~ 10E+15 ohm/sq
