Napson所有四探针电阻率测试仪所搭载的测试探头全是由英国Jadel公司为Napson定制，具有非常良好的测量稳定性。
Napson的高性能四探针探头是由英国Jandel公司提供Jandel探头针对硅片，外延层，扩散层，ITO层，金属层及其他薄膜层提供高精度面电阻和电阻率测量，并且通过多年市场验证。
根据不同应用及待测样品，选择不同型号的探头使用。
探针材料: TC [碳钨合金] (或 OS: 锇合金)
半径: 40 um (可选配25 um 至 500 um)
载重 (g/针): 200ｇ (10g 至 250g)
针间距: 1.00 mm (可选配0.5 mm 至 1.59 mm)
