自动EL测试系统

  • 产品型号:M2442S-9A
  • 制造原厂:Quatek Co.,Ltd.

特点:

  • 2”~6”LED EL特性Wafer Level量测,可测试亮度,波长,色座标,半高宽,电学参数等参数 

  • LED Wafer平均分布5点,9点或更多点位置量测 

  • 6ψ大面积探针保证接点安全,防止人工点铟球误差 

  • 密闭式测试环境,屏敝外界光影响,测试精度高 

  • 电子切换开关,接触电阻低,寿命长 

  • 搭配两款测试主机皆可实现自动测试,数据存储分析功能

系统配置:

  • M2442S-9A 9点自动测试平台 

  • 桌上型电脑(含测试软体) 

  • 9点点铟球对位治具 

  • 测试主机(可选): 

维明LED617HC LED光电参数测试仪 

GAMMA GS-1190光谱仪+ 

Keithley 2400源表

      光度计规格:

  • Amperes 1.999E-09 to 1.999E-03

  • Watts 1.999E-09 to 1.999E-03

  • Joules 1.999E-09 to 1.999E-06

  • Lux 1.999E-02 to 1.999E+04

  • Lux-Seconds 1.999E-02 to 1.999E+01

  • Ft-Candle 1.999E-03 to 1.999E+03

  • Footlamberts 1.999E-01 to 1.999E+05

  • Nits 1.999E-01 to 1.999E+05

      光谱仪规格:

  • Detector: 2048-element linear silicon CCD array

  • Effective range: 200-1100nm

  • nmDynamic range: 2 x 108

      Sensitivity (estimate):

  • 86 photons/count; also, 2.9 x 10-17

  • joule/count

  • 2.9 x 10-17 watts/count (for 1-second

  • integration)

  • Signal-to-noise: 250:1 (at full signal)

  • Dark noise: 2.5-4.0 (RMS)