English
简体中文
可測量厚度,TTV,Bow,區域及整片矽片的平整度(符合ASTM規範)
可測量材料有矽,砷化鎵,鍺,磷化銦,碳化矽
覆蓋500微米測量厚度,無需重複校準
2-D/3-D測量資料圖譜
樣品尺寸3~8 英寸
測量範圍
厚度: 200 –1200μm彎曲度 : +/-350μm翹曲度: 350μm