GAM为反射和透射测试提供了一个独特的高性能选项。这些系统能捕获薄膜涂层的完整光谱和比色特性，扫描时间通常不到一秒，多层膜厚度和样品平面度也可以平行监测。
GS-191SA-1045半自动双角度反射测量系统 | ||
191光学头 | 10度 | 45度 |
测量类型 | 第一面表面镜面反射 | 第一面表面镜面反射 |
样本类型 | 玻璃 | 玻璃 |
照明角度 | 10° | 10° |
可视角度 | 10° | 10° |
最小样品厚度 （仅限第一表面反射） | 0.5mm（透明样品） | 0.25mm（透明样品） |
最大样品厚度 | 6mm | 6mm |
最大样本尺寸 | 325mm x 225mm面板 | 325mm x 225mm面板 |
光谱范围 | 360nm-830nm | 360nm-830nm |
照明点尺寸（分析领域） | <1500ms | <1500ms |
校准参考标准 | 内置BK-7抛光玻璃 | 内置BK-7抛光玻璃 |
半自动系统规格 | ||
191光学头 | 191F-1045双角度光学器件 | |
测量程序类型 | 五种可选择的程序类型，可单独配置 最多五种不同的面板尺寸： 五点十字（所有点10°和45°） 五点十字（仅限中心点45°） 三点对角线（所有点10°和45°）， 25点网格（所有点10°和45°）， 40点网格（所有点10°和45°） | |
测量位置 | 位置坐标可以单独设置 五种不同的面板尺寸，1毫米分辨率 默认设置有一个从每个10mm开始的网格 边缘，在角落位置之间具有相等的间距 | |
周期 | 程序相关，每个测量点需要〜1500ms | |
系统尺寸 | 高度：1.25m 宽度：1.0m 深度：1.0m 重量：约300kg | |
