GAM为反射和透射测试提供了一个独特的高性能选项。这些系统能捕获薄膜涂层的完整光谱和比色特性，扫描时间通常不到一秒。
多层膜厚度和样品平面度也可以平行监测。
来自GAM的反射和透射测试系统有几种配置。根据样本类型和期望的测量结果，可以使用各种系统配置来测试抛光（镜面）或粗糙（漫射）样本。本手册中包含了一个生产选择指南，以帮助您配置最佳的系统以满足您的需要。
这些系统对于需要快速准确测量平板显示器玻璃、防反射涂层检查、光电（太阳能电池）涂层、光学滤光片、透镜涂层、油漆样品、漫射塑料等的制造商来说是理想的。
无论样本如何，GAM为你的反射或透射测量需求提供了一个解决方案。
对> 500μm厚的薄玻璃基板的隔离第一面表面测量
完整的光谱分析
测试涂层均匀性和比色分析
研发或生产的全周期测试
GS-191SA-1045半自动双角度反射测量系统 | ||
191光学头 | 10度 | 45度 |
测量类型 | 第一面表面镜面反射 | 第一面表面镜面反射 |
样本类型 | 玻璃 | 玻璃 |
照明角度 | 10° | 10° |
可视角度 | 10° | 10° |
最小样品厚度 （仅限第一表面反射） | 0.5mm（透明样品） | 0.25mm（透明样品） |
最大样品厚度 | 6mm | 6mm |
最大样本尺寸 | 325mm x 225mm面板 | 325mm x 225mm面板 |
光谱范围 | 360nm-830nm | 360nm-830nm |
照明点尺寸（分析领域） | <1500ms | <1500ms |
校准参考标准 | 内置BK-7抛光玻璃 | 内置BK-7抛光玻璃 |
半自动系统规格 | ||
191光学头 | 191F-1045双角度光学器件 | |
测量程序类型 | 五种可选择的程序类型，可单独配置 最多五种不同的面板尺寸： 五点十字（所有点10°和45°） 五点十字（仅限中心点45°） 三点对角线（所有点10°和45°）， 25点网格（所有点10°和45°）， 40点网格（所有点10°和45°） | |
测量位置 | 位置坐标可以单独设置 五种不同的面板尺寸，1毫米分辨率 默认设置有一个从每个10mm开始的网格 边缘，在角落位置之间具有相等的间距 | |
周期 | 程序相关，每个测量点需要〜1500ms | |
系统尺寸 | 高度：1.25m 宽度：1.0m 深度：1.0m 重量：约300kg | |
测量精度 | ||
光谱反射 | ± 0.5% | ± 0.5% |
三色 （CIE 1931 X，Y，Z） | ± 0.05 | ± 0.10 |
色度 （CIE 1931 x，y） | ± 0.005 | ± 0.005 |
LAB颜色 （CIE 1976 L *，a *，b *） | L* ± 2.0 a*, b* ± 0.8 | L* ± 2.0 a*, b* ± 0.8 |
平均反射率 | ± 0.2 | ± 0.2 |
报告的参数 | ||
光谱数据 | 作为波长的函数的反射率 | |
比色数据 | 具有2°或10°视角，（L *，a *，b *），（x，y），（u'，v'）的CIE三色激励X，Y，Z和其他参数 | |
