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FilmTek™3000组合反射透射分光光度计能够对沉积在透明基底上的未图案化薄膜进行高效，准确的透射和反射测量。它非常适合测量非常薄的吸收膜的厚度和光学常数。采用广义材料模型和先进的全局优化算法，可同时测定：
