数位薄膜电阻计

  • 产品型号:5601TSR / QT-50
  • 制造原厂:QUATEK

四点探针面电阻值测试系统由5601TSR面电阻测试仪、 QT-50手动测试控制台所组成。本系统利用四点探针原 理测量出面电阻值/电阻系数;测量材质为晶圆或ITO膜 等材料。 测量尺寸可为晶圆或方形尺寸;不用计算即可直接测量 出面电阻值数值Ω/□。系统体积小,重量轻,容易操作, 具防静电功能。可选配QT-60大尺寸手动测试控制台, QT-70自动探针测试台或ST-610A掌上型探头进行测量。

应用:

太阳能光电材料 

导电高分子材料 

透明导电薄膜材料

ITO膜 

奈米材料 

小分子有机发光材料 

高分子有机发光材料 

生物芯片涂布材料


  • 量测材质为晶圆或ITO膜等材料

  • 量测尺寸可为晶圆或方形尺寸

  • 不用计算即可直接量测出面电阻值数值 Ω/□

  • 系统体积小,重量轻,容易操作,具防静电功能

  • 可选配QT-60大尺寸手动测试控制台, QT-70自动探针测试台或ST-610手持式探头进行量测    


最大显示    150000(表面电阻Ω/□) /33000(一般电阻Ω)

采样率        4 samples/sec

显示            六位数, 7段LED(14.2mm)显示

过载指示     “00000” 闪烁

量程选择        自动和手动

过载保护        AC 330Vrms

工作电压        AC90V~264V, 50/60Hz<15VA

操作温度        0~50℃, RH≦80%

通讯接口        RS232, RS485

波特率            1200/2400/4800/9600/19200/38400/57600/115200

尺寸            208mm(长) x 91mm(高) x 280mm(宽)