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HF-300是由日本Napson公司推出的针对太阳能电池片的少子寿命测试仪。
微光压法非接触无损伤测量
适合单晶和多晶硅样品测量
多点测量及数据图谱影像
钝化处理的测试腔体(用于硅片及硅块测量)
样品尺寸[硅片]<方片>~210x210mm,<圆片>~8寸[块体]最大.210(W)x210(H)x500(D)mm
测量范围0.1μS~1000μS(*兼容电阻率范围;0.1~1,000Ω・cm)<激光器>类型:半导体激光器波长:905nm,峰值功率:60W,脉宽:80nS