非接触式单晶多晶硅少子寿命测试仪

  • 产品型号:HF-300
  • 制造原厂:Napson Corp.

HF-300是由日本Napson公司推出的针对太阳能电池片的少子寿命测试仪。



  • 微光压法非接触无损伤测量

  • 适合单晶和多晶硅样品测量

  • 多点测量及数据图谱影像

  • 钝化处理的测试腔体(用于硅片及硅块测量)    


  • 样品尺寸
    [硅片]<方片>~210x210mm,<圆片>~8寸
    [块体]最大.210(W)x210(H)x500(D)mm 

  • 测量范围
    0.1μS~1000μS(*兼容电阻率范围;0.1~1,000Ω・cm)
    <激光器>类型:半导体激光器
    波长:905nm,峰值功率:60W,脉宽:80nS