Model 4012 VFTLP测试系统于2000年初开发，旨在将高速测量添加到通常的I-V图中，以测量和记录导致氧化物失效的真实TDDB波形。
通过模拟真实CDM测试的100ps上升时间脉冲来识别您的CDM保护电路的响应。
方便、精确、可重复操作
计算机控制的自动化测试
测试脉冲宽度：1ns，2ns，5ns，10ns（标准）。脉宽软件可选。
测试脉冲电压：0-500V@50Ω负载，1000V@开路
测试脉冲电流：0-10A@50Ω负载，20A@短路
测试脉冲上升时间：100ps，200ps，400ps（内置，软件可选）
漏电压：0-100V（0.1V步径）
漏电流灵敏度：1 pA to 2.5 mA
