WS-8800是由日本Napson公司推出的全自动四探针电阻率硅片分选仪。它运用机械手的传输方式，可以通过四探针法测量硅片的电阻率，以及PN型和厚度，为硅片进行分档归类，便于客户的产品规格分类，可以支持多种尺寸的半导体硅片。
通过测量硅片电阻率，厚度，P/N极性进行分选
具备自我测试功能，测量范围广
拥有根据厚度,边缘及温度对硅片电阻率测量的修正功能
Cassette数量可根据客户要求设计
具备CIM通信功能，可兼容SMIF或FOUP
样品尺寸：
3 ~ 8寸 (或 12寸)
测量范围：
电阻率: 100μ~1M Ω.cm
面电阻: 1m~10M Ω/sq
