标配工作模式：接触模式、轻敲模式、相位成像模式、抬高模式、横向力/摩擦力模式、磁力和静电力模式、力曲线/力谱测量
选配工作模式：Profile 线测量模式，快速获得纳米级的长距离轮廓剖面线图
AFM 主机：一体式设计，龙门架式扫描头结构，大理石底座
Z 轴升降装置：马达自动控制探针垂直趋近样品扫描，精确定位扫描区域
样品移动台：300×300mm 大行程二维电动样品移动台，快速选择感兴趣的样品区域
载物台：直径300mm 带真空吸附功能的超大样品载物台
扫描器：100×100um 大范围高精度闭环平移式压电扫描器，标准光栅定标精度
电子学控制器：模块化的电子控制器，可终身维护及改进
辅助光学观察系统：高倍光学定位CCD 观测系统，实时观察与定位探针样品扫描区域
探针及附件：标配接触探针、轻敲探针、标准光栅样品及整套专业工具
防震装置：封闭式金属屏蔽罩，气动式减震平台，抗干扰能力强
软件系统：集成多种工作模式控制软件，功能强大的分析软件，可终身免费升级
AFM 扫描范围：100um×100um×10um
AFM 扫描分辨率：XY 向0.2nm，Z 向0.05nm
AFM 扫描速率：0.6Hz~4.34Hz
AFM 扫描角度：0~360°
样品尺寸：Φ≤300mm，H≤20mm
样品台移动范围：300mm×300mm
Profile 线测量长度：1mm
辅助光学定位：10X 物镜，1um 光学分辨率
辅助相机：500 万像素数字CCD
减震台：气动式减震台，减震频率0.5Hz
噪音水平：＜0.1nm
通信接口：USB2.0/3.0
运行环境：运行于Windows98/2000/XP/7/8/10 操作系统
