测量系统特点:
· 上表⾯反射率独立测量,
· 完整的光谱分析和顔⾊测量(X.Y.Z, L* a* b*)
· 实现産綫⾼速测量及mapping分析镀膜均匀性
· 可量测到500μm厚度的玻璃
应⽤:
‧ 平⾯显⽰器保护玻璃测量
· 抗反射镀膜玻璃测量，反射率, X.Y.Z, L*a*b* ...反射光谱等光学参数
‧ 触控⾯板玻璃测量
‧ 光学滤镜/镜头镀膜
X-Y 轴
· 架构：高精度循环式线性模组 (含滚珠螺杆、滑轨)
· 行程：1150mm*850mm
· 解析度：1um
· 精度：±15um以内
· 重覆性：误差小于 ±10um
· 平台尺寸：122(D) x 155(W) x 1(H) cm
· 材质：机架--铝合金；置片平台--铁氟龙
· 平整度：±50um在122x155cm面积
· 外观尺寸：120(D) x 155(W) 209(H) cm (不含信号灯)
