• 产品中心

  半导体

  • 量测设备

    • 量测设备

  • 集成电路工艺

    • 电阻率/PN性/少子寿命

    • 硅片分选

    • 晶圆厚度/薄膜厚度/应力测量

    • 碳氧含量测量

    • 表面缺陷分析

    • 曝光机

    • 半导体器件测试

    • 探针台/探针卡/半导体相关设备

    • 先进封装PVD设备

    • 晶圆检测

  • 平板显示制造

    • 电阻率/膜厚测量

    • 光学检测

    • 耗材及涂布机喷嘴

    • 液晶阻值测量

    • 触摸屏检测

    • 保护玻璃类金刚石镀膜

    • AMOLED

    • MicroLED/MiniLED

    • 硅基OLED

  • 太阳能制程

    • 电阻率/PN/少子寿命/碳氧含量

    • 薄膜厚度及反射率

    • 太阳能模拟器

    • 聚焦太阳能

    • 离子注入机

    • 光伏PVD设备

  化合物半导体

  • 衬底及外延片材料特性测试

    • PL荧光光谱仪/电致发光

    • 霍尔效应

    • 电化学CV

    • 外延层厚度测量

    • 非接触式面电阻/超高阻测量

    • 晶圆表面缺陷/几何尺寸/形貌扫描

    • 深能级瞬态谱测试

    • 化合物半导体PVD设备

  • 芯片制程及封装应用

    • LED光学特性测试

    • 探针台/探针

    • 薄膜厚度及电阻率

    • 曝光机

  测试与测量

  • 光学检测

    • 分光光谱仪/夜视仪

    • 光功率计

    • 反射率/穿透率测量

    • 标准光源/积分球

    • 影像品质测试

  • 计量校准

    • 多功能校准器

    • 高精度数字万用表

    • 标准功率源

    • 标准电阻/电容/电感

    • 安规测试仪及校准源

    • 高精度LCR表/高精度数字电桥

    • 光学计量

    • 其它计量测量仪器

  • 静电解决方案

    • 静电监控

    • 静电测量

    • 静电消除

    • 抗静电能力测试与分析

    • 防静电耗材

    • 防静电工程材料

    • 洁净室尘埃颗粒计数仪

  • 科研测试与分析

    • 高压/脉冲源

    • 铁电压电材料

    • 材料特性分析

    • 其它科研仪器

    • 皮秒级电压脉冲源

    • 任意波形发生器

  • 电路板检测

    • SMT器件检测

    • 电路板全自动测试平台

    • 电路板故障检测

  • 电力电子测量

    • 电力设备检测

    • 电力品质监测

    • 功率分析

    • 电磁干扰预检测仪

  • 特殊测量测试应用

    • 道路安全反光材料检测

    • 图像品质/激光打印机检测

    • 碳粉质荷比（Q/M）带电量测试仪

  • 高压电源

    • HiTek

    • UltraVolt

  • 低压电源

  • 元素测试与分析

  工程材料

  • 工程塑料添加剂

  • 工程塑料颗粒

  • 工程塑料型材

  • 其他先进材料

  • 零件及加工服务

• 服务与支持

  常见问题

  资料下载

  技术支援

  视频展示

• 代理厂商

• 关于德仪

  公司简介

  公司新闻

  展会内容

  加入我们

  联系我们

  Sales Performance Index

English

繁體中文