聚焦前沿！德仪QUATEK参与2026 全国 MOCVD 学术会议丨以“芯”方案，赋能宽禁带半导体未来！
化合物半导体表征测试，我们是专业的！
近日，备受瞩目的2026第十九届全国MOCVD学术会议在行业同仁的热切期待中圆满落下帷幕。作为化合物半导体精密测试方案的领军者，QUATEK携全套尖端解决方案，在现场与来自全国的高校大咖、产业专家们进行了深度交流与思想碰撞！
我们不仅仅是参展，更是带着解决GaN、SiC等宽禁带半导体外延检测痛点的“硬核”方案而来，为行业带来实实在在的价值！
展位现场，“芯”科技矩阵吸睛无数！
【电学性能精准把控】
● Napson无接触电阻率测试仪： 告别损伤，实现晶圆电阻率的无损、快速测量，效率倍增！
● HL9900变温高阻霍尔系统： 深度解析材料迁移率、载流子浓度等关键电学参数，洞悉材料本征特性！
【材料结构与缺陷透视】
● Toho ECVPRO+外延层掺杂浓度测试仪： 精准揭示外延层掺杂分布，优化器件性能！
● PhysTech深能级瞬态谱仪 (DLTS)： 捕捉材料深层缺陷信息，为可靠性保驾护航！
【光学与形貌精细表征】
● PL光致发光光谱系统： 直观呈现材料光学特性，助力发光效率提升！
● YGK表面颗粒度检测设备： 微米级颗粒无所遁形，确保晶圆表面洁净度！
● TeraOptics微区薄膜厚度检测设备： 纳米级精度，精确掌握薄膜厚度均匀性！
这些明星方案，全面适配GaN、SiC、GaAs、InP等主流及新兴宽禁带半导体材料，从宏观到微观，从电性到缺陷，全方位满足您的严苛需求！无论是实验室研发突破，还是产线量产质控，德仪QUATEK都能提供稳定可靠的支撑！
会议现场交流氛围浓厚，团队与众多参会学者、工程师深入探讨外延工艺难题，充分了解国内第三代半导体研发、量产环节对于精密表征设备的实际诉求。
持续深耕半导体测试赛道
QUATEK 将持续整合全球优质精密检测设备资源，响应本土产业发展需求，提供稳定、专业的半导体材料表征整体方案，助力国内宽禁带半导体产业加速发展。
